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Rigaku lanzó XTRAIA MF-3400, un instrumento de medición para semiconductores de última generación
La medición de alta precisión de obleas satisface la creciente demanda de la IA y los centros de datos.
Communicado publicado en el 05/12/2025 - 03:34
Rigaku lanzó CT Lab HR160, el sistema de tomografía computarizada (TC) por rayos X de alta resolución
—Desarrollado en colaboración con Excillum para el análisis de baterías, dispositivos semiconductores y materiales avanzados—.
Communicado publicado en el 02/09/2026 - 10:58
Sábado 12 de septiembre - 06:59
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