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Venta De Los Tres Primeros Analizadores XRF Portátiles Vanta™ De Olympus
Las tres primeras unidades del nuevo analizador portátil de fluorescencia por rayos X (XRF) Vanta fabricadas por Olympus han sido vendidas a CSIRO. Esta edición de Smart News Release (comunicado de prensa ...
Communicado publicado en el 20/09/2016 - 21:11
JEOL: lanzamiento de nuevo microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky JSM-IT810
- Mejora de la eficiencia operativa desde el ajuste de los instrumentos hasta la observación y el análisis mediante el uso de tecnología de automatización -.
Communicado publicado en el 30/07/2024 - 09:11
Resistencia al alcance de sus manos: Nueva serie L de analizadores portátiles XRF Vanta™ de Olympus
La nueva serie L de analizadores portátiles por fluorescencia de rayos X Vanta™ de Olympus ha sido desarrollada para clientes que requieren la resistencia, potencia, velocidad y facilidad de uso de los ...
Communicado publicado en el 19/09/2017 - 12:43
Cotización en el “Prime Market” de la Bolsa de Tokio
Rigaku Holdings Corporation, socio de soluciones globales para el análisis por rayos X (sede central: Akishima, Tokio; presidente y director ejecutivo: Jun Kawakami; “Rigaku”), ha completado su cotización en el “Prime Market” de la Bolsa ...
Communicado publicado en el 26/10/2024 - 03:07
Rigaku Holdings Corporation: Queda aprobada su cotización en el mercado principal de la Bolsa de Tokio
Rigaku Holdings Corporation, socio de soluciones globales para el análisis de rayos X (sede central: Akishima, Tokio; presidente y director ejecutivo: Jun Kawakami; “Rigaku”), ha recibido hoy la aprobación para una nueva cotización de sus ...
Communicado publicado en el 25/09/2024 - 04:03
JEOL lanza los microscopios electrónicos de barrido JSM-IT710HR/JSM-IT210
-Una mayor evolución permite dejar la observación y el análisis a cargo del instrumento, lo que mejora la eficacia-.
Communicado publicado en el 12/07/2023 - 17:20
IBC Content Everywhere y NHK llevan el televisor de tecnología 8K a Oriente Medio
Demostraciones y análisis del sistema Super Hi-Vision en el evento de lanzamiento en enero de 2015 en Dubái.
Communicado publicado en el 29/12/2014 - 06:00
Rigaku pone en el mercado el XHEMIS TX-3000, un sistema analítico TXRF para procesos de semiconductores de última generación
El liderazo de Rigaku en el mercado de la tecnología TXRF permite acelerar hasta seis veces el rendimiento analítico..
Communicado publicado en el 27/08/2025 - 03:17
Rigaku lanzó XTRAIA MF-3400, un instrumento de medición para semiconductores de última generación
La medición de alta precisión de obleas satisface la creciente demanda de la IA y los centros de datos.
Communicado publicado en el 05/12/2025 - 03:34
Rigaku lanza la producción masiva de XTRAIA XD-3300 para el mercado de los semiconductores
Acelera la memoria y la lógica de próxima generación con metrología no destructiva ultrarrápida.
Communicado publicado en el 30/07/2025 - 04:04
JEOL: Lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico analítico de ultra alta resolución atómica JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2)
JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (Presidente y Director de Operaciones Izumi Oi) anuncia el lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico analítico de resolución atómica, JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2) en febrero de 2020. Este comunicado de prensa ...
Communicado publicado en el 14/02/2020 - 22:11
Un nuevo método permite determinar la estructura de diversos compuestos fenólicos a partir de una diminuta muestra de una flor alpina
Hyuga Hirano (Escuela de Posgrado Unificada de Ciencias Agrícolas de la Universidad de Agricultura y Tecnología de Tokio, y estudiante de posgrado colaborador del Museo Nacional de Naturaleza y Ciencia (Presidente: Makoto Manabe)); Takashi ...
Communicado publicado en el 16/04/2026 - 11:38
Rigaku abre Rigaku Technology Center Taiwan
- Impulsar el crecimiento regional a través de la ingeniería y la colaboración en Taiwán y más allá -.
Communicado publicado en el 21/10/2025 - 17:23
Rigaku lanza ONYX 3200, un instrumento de metrología para la fabricación de semiconductores
Permite la inspección completa de metales para todos los procesos, desde el cableado de chips hasta el empaquetado avanzado, en una sola plataforma.
Communicado publicado en el 18/12/2025 - 09:58