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JEOL anuncia el lanzamiento comercial de HAXIS: el nuevo microscopio electrónico de barrido con bombardeo iónico de ángulo bajo

JEOL Ltd. (presidente y director ejecutivo: Izumi Oi) anuncia el desarrollo de su nuevo microscopio electrónico de barrido con bombardeo iónico de ángulo bajo, HAXIS, cuya comercialización comienza el 5 de octubre de 2026. Este comunicado de ...

Communicado publicado en el 05/10/2026 - 10:32