2 resultados
Ordenar por fecha - Ordenar por pertinencia
Todos (2)
Prensa (2)
 
JEOL: Lanzamiento comercial del sistema SEM láser “LazEdge”
JEOL Ltd. (presidente y director ejecutivo: Izumi Oi) ha desarrollado el “LazEdge”, un sistema de microscopía electrónica de barrido (SEM, por sus siglas en inglés) equipado con un sistema de procesamiento láser, que pondrá a la venta a ...
Communicado publicado en el 25/05/2026 - 10:12
JEOL anuncia el lanzamiento comercial de HAXIS: el nuevo microscopio electrónico de barrido con bombardeo iónico de ángulo bajo
JEOL Ltd. (presidente y director ejecutivo: Izumi Oi) anuncia el desarrollo de su nuevo microscopio electrónico de barrido con bombardeo iónico de ángulo bajo, HAXIS, cuya comercialización comienza el 5 de octubre de 2026. Este comunicado de ...
Communicado publicado en el 05/10/2026 - 10:32