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Nuevo detector de defectos ultraportátil EPOCH® 6LT con capacidades integrales para la detección de defectos durante inspecciones de acceso por cuerdas o de máxima portabilidad
Optimizado para operaciones con una sola mano, el detector de defectos EPOCH 6LT se dota de una estructura ergonómica a la vanguardia que ofrece potentes funcionalidades ultrasónicas y ha sido especialmente ...
Communicado publicado en el 27/06/2017 - 12:30
Rigaku pone en el mercado el XHEMIS TX-3000, un sistema analítico TXRF para procesos de semiconductores de última generación
El liderazo de Rigaku en el mercado de la tecnología TXRF permite acelerar hasta seis veces el rendimiento analítico..
Communicado publicado en el 27/08/2025 - 03:17