Smiths Detection presenta un escáner de difracción de rayos X vanguardista

Una nueva era para los controles de seguridad con una precisión sin precedentes en la discriminación de materiales.

Communicado publicado en el 16/04/2024 - 06:00

Rigaku presenta el detector XSPA-200 ER para el sistema de difracción de rayos X

Admite análisis cómodos y de alta sensibilidad en un instrumento de escritorio.

Communicado publicado en el 06/12/2024 - 05:04

Rigaku lanza la producción masiva de XTRAIA XD-3300 para el mercado de los semiconductores

Acelera la memoria y la lógica de próxima generación con metrología no destructiva ultrarrápida.

Communicado publicado en el 30/07/2025 - 04:04

Rigaku y SPERA PHARMA: una asociación estratégica para el desarrollo farmacéutico avanzado

Rigaku Corporation, empresa del grupo Rigaku Holdings Corporation (sede central: Akishima, Tokio; gerente general: Jun Kawakami; en adelante, ''Rigaku''), y SPERA PHARMA, Inc. (sede central: Osaka; presidente y director representante: Keitaro ...

Communicado publicado en el 17/04/2025 - 20:18

Rigaku se une a dos socios para crear el RIGAKU/JEOL-iCeMS Innovation Core y firmar un acuerdo de cooperación

El 4 de septiembre de 2025, Rigaku Corporation, socio global de soluciones en sistemas analíticos de rayos X y empresa del grupo Rigaku Holdings Corporation (sede central: Akishima, Tokio; presidente y director ejecutivo: Jun Kawakami; en ...

Communicado publicado en el 05/09/2025 - 07:37

Maxon One Explota con Nuevas y Excitantes Características y Mejoras en el Flujo de Trabajo

Simulaciones Volumétricas Avanzadas en Cinema 4D, Modelado de Simetría en Forger, Mejoras de Flujo de trabajo de Real Lens Flares y Trapcode destacadas del Lanzamiento de Noviembre.

Communicado publicado en el 09/11/2022 - 17:00

Panasonic desarrolla tecnología WBC azul de alta potencia para revolucionar las aplicaciones DDL en microfabricación

Esta tecnología admite un láser WL corto de alta potencia para microfabricación con una alta calidad de haz.

Communicado publicado en el 30/01/2020 - 00:02

Rigaku lanzó XTRAIA MF-3400, un instrumento de medición para semiconductores de última generación

La medición de alta precisión de obleas satisface la creciente demanda de la IA y los centros de datos.

Communicado publicado en el 05/12/2025 - 03:34

Rigaku Holdings publica su Informe Integrado 2025

Rigaku Holdings Corporation (sede central: Akishima, Tokio; director ejecutivo: Jun Kawakami; en adelante, “Rigaku”) ha publicado su primer Integrated Report 2025 (Informe Integrado 2025) (en adelante, “el Informe”) en el sitio web de ...

Communicado publicado en el 12/11/2025 - 20:01

Rigaku abre Rigaku Technology Center Taiwan

- Impulsar el crecimiento regional a través de la ingeniería y la colaboración en Taiwán y más allá -.

Communicado publicado en el 21/10/2025 - 17:23

Rigaku finaliza el nuevo edificio de su planta de Yamanashi

La superficie se multiplica por 2,7 para cumplir con la demanda a nivel mundial.

Communicado publicado en el 28/05/2025 - 11:09

DigiLens anuncia el lanzamiento de SRG+

SRG+ se convertirá en una revolución en el sector gracias a su eficiencia reflectante a un costo muy razonable..

Communicado publicado en el 03/04/2023 - 17:26

JEOL: Lanzamiento de las versiones (i)/(is) del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo tipo Schottky JSM-IT800

- Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con plataforma de tecnología de inteligencia (Intelligence Technology, IT) -.

Communicado publicado en el 31/08/2021 - 18:35

JEOL: Lanzamiento del Nuevo Microscopio Electrónico JSM-IT800 de Barrido de Emisión de Campo Tipo Schottky

－Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con plataforma de tecnología de inteligencia (Intelligence Technology, IT)－.

Communicado publicado en el 25/05/2020 - 14:12

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